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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

标 准 号: GB/T 5594.8-2015
替代情况: 替代 GB/T 5594.8-1985
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司
发布日期: 2015-05-15
实施日期: 2016-01-01
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更新日期: 2017年11月23日
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内容摘要

GB/T5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。
本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

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