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石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

标 准 号: SJ/T 11212-1999
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国信息产业部
起草单位: 电子工业部标准化研究所
发布日期: 1999-08-26
实施日期: 1999-12-01
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更新日期: 2022年12月05日
内容摘要

本规范适用于石英晶体件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础,适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。

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