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半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查

标 准 号: GB/T 4937.35-2024
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所
发布日期: 2024-03-15
实施日期: 2024-07-01
点 击 数:
更新日期: 2024年06月08日
内容摘要

本文件规定了塑封电子元器件进行声学显微镜检查的程序。本文件提供了一种使用声学显微镜对塑料封装进行缺陷(分层、裂纹、模塑料空洞等)检查的方法,本方法具有可重复性,是非破坏性试验。


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