客服微信 网站公众号
本标准规定了使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度的方法。 本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra 小于100nm 的薄膜。 其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法。