安全管理网

原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法

标 准 号: GB/T 31227-2014
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 上海交通大学、纳米技术及应用国家工程研究中心
发布日期: 2014-09-30
实施日期: 2015-04-15
点 击 数:
更新日期: 2017年12月08日
内容摘要

本标准规定了使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度的方法。
本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra 小于100nm 的薄膜。
其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
网友评论 more
创想安科网站简介会员服务广告服务业务合作提交需求会员中心在线投稿版权声明友情链接联系我们