安全管理网

静电复印光导体表面缺陷测量方法

标 准 号: JB/T 8268-2015
替代情况:
发布单位: 工业和信息化部
起草单位: 天津复印技术研究所等
发布日期: 2015-04-30
实施日期: 2015-10-01
点 击 数:
更新日期: 2019年02月10日
内容摘要

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告的要求。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
网友评论 more
创想安科网站简介会员服务广告服务业务合作提交需求会员中心在线投稿版权声明友情链接联系我们