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硅片表面光泽度的测试方法

标 准 号: GB T 42789-2023
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 上海合晶硅材料股份有限公司、麦斯克电子材料股份有限公司、广东金湾高景太阳能科技有限公司等
发布日期: 2023-08-06
实施日期: 2024-03-01
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更新日期: 2023年09月19日
内容摘要

本文件描述了采用光反射法以20°、60°或85°几何条件测试硅片表面光泽度的方法。  
本文件适用于硅腐蚀片、抛光片、外延片表面光泽度的测试,不适用于表面有图形的硅片的测试。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
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